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晶片姿态检测
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测量项目
晶片姿态
客 户
知名电子有限公司
工 件
晶片
下游行业
3C电子行业
产品型号
LVM2520
技术要求
1. 针对左侧PKG反向、PKG在移位、PKG在槽外、CAP&PKG在槽外、PKG在移位等不良现象,能够完成判断,根据需求报警或挑出等动作;
2.检测时间要在60S内完成;
客户价值
省去人工检测,实现全自动检测,提升检测结果一致性。
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